Project Title |
Funding Source |
Starting Date |
Ending Date |
鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 |
科技部 |
102/08/01 |
105/07/31 |
以資料分析為導向之新型態電子設計自動化研究-子計畫六:應用於最低操作電壓認定與系統錯誤預測之資料探勘平台(1/2) |
科技部 |
103/05/01 |
104/04/30 |
平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫六:平行化多核心系統測試方法(3/3) |
國科會 |
102/05/01 |
103/07/31 |
平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫六:平行化多核心系統測試方法(1/3) |
國科會 |
100/05/01 |
101/04/30 |
未來世代內嵌式SRAM與STT-MRAM設計技術(3/3) |
經濟部 |
100/05/01 |
101/04/30 |
針對粗顆粒多重臨界電壓CMOS技術之電源開關繞線 |
國科會 |
99/08/01 |
100/07/31 |
未來世代內嵌式SRAM與STT-MRAM設計技術(2/3),學界科專計畫 |
經濟部 |
99/05/01 |
100/04/30 |
嵌入式DRAM測試方法 |
國科會 |
98/08/01 |
99/07/31 |
解決工程改變中所產生之輸入扭轉違規與輸出負載違規 |
國科會 |
98/08/01 |
99/07/31 |
後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究-子計畫三:角落錯誤之矽除錯(2/3) |
國科會 |
98/08/01 |
99/07/31 |
未來世代內嵌式SRAM與STT- MRAM設計技術三年計畫(1/3) |
經濟部 |
98/05/01 |
99/04/30 |
利用重新排列掃瞄元件減低掃瞄位移功率 |
國科會 |
97/08/01 |
98/07/31 |
後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究-子計畫三:角落錯誤之矽除錯(1/3) |
國科會 |
97/08/01 |
98/07/31 |
晶片系統傳輸鏈之電路系統設計與驗證平台三年計畫 |
經濟部 |
97/02/01 |
97/07/31 |
混合式測試回應壓密--結合空間壓密器與未知值阻擋多重輸入位移儲存 |
國科會 |
96/08/01 |
97/07/31 |
建構有未知值測試回應壓密之最佳化空間壓縮器 |
國科會 |
96/01/01 |
96/07/31 |